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原位MEMS 气体/液体样品杆系列 参考价：面议
泽攸科技原位MEMS气体/液体样品杆系列是一种基于MEMS芯片技术的创新型透射电镜（TEM）样品杆，专为在气体或液体环境中进行原位测量而设计。该系列产品通过在标...
多样品杆 参考价：面议
PicoFemto系列透射电镜多样品杆，可一次装载3个标准TEM样品，提高测试效率，减少频繁插拔样品杆对测角台的磨损。
原位MEMS 加热/电学样品杆系列 参考价：面议
原位MEMS加热/电学样品杆系列是一款专为透射电子显微镜（TEM）设计的实验工具，旨在满足纳米材料、能源科学及电子器件研究领域对原位动态表征的需求。该系列产品基...
TEM-STM样品杆系列 参考价：面议
泽攸科技TEM-STM样品杆系列是一种基于扫描探针技术的创新性原位透射电镜（TEM）测量工具，为纳米科学研究提供了全新的视角和手段。该系列产品将扫描探针控制单元...
三维重构样品杆 参考价：面议
PicoFemto系列透射电镜三维重构样品杆，基于样品端超薄设计，满足大倾角倾转和360度旋转测试需求。
原位冷冻样品杆系列 参考价：面议
原位冷冻样品杆系列是一款专为透射电子显微镜（TEM）设计的实验工具，旨在满足材料科学、生命科学等领域对低温环境下样品表征的需求。该系列产品基于标准外形的透射电镜...
原位多场耦合样品杆 参考价：面议
PicoFemto系列透射电镜原位多场耦合样品杆，结合TEM+STM+MEMS原位技术，通过更换不同类型的原位芯片及探针，在透射电镜中实现光、电、力、热多种原位...
原位加热/电学样品杆 参考价：面议
PicoFemto系列透射电镜原位加热/电学样品杆，基于MEMS原位芯片技术，通过更换多种类型的加热芯片或电学芯片，在透射电镜中实现对样品加热或加电的原位功能。
原位光学样品杆 参考价：面议
PicoFemto系列透射电镜原位光学样品杆，基于TEM-STM样品杆技术，样品杆内集成光纤，杆末端可外接光源或光谱仪，实现透射电镜内的光电测量或光谱学表征研究...
原位力学样品杆 参考价：面议
PicoFemto系列透射电镜原位力学样品杆，基于TEM-STM样品杆技术，集成力测量功能，对样品进行压缩/拉伸过程可实时输出力-位移曲线，支持力-电同时测量。
原位电学测量样品杆 参考价：面议
PicoFemto系列透射电镜原位测量系统源于中科院物理研究所SF1组（20世纪90年代），围绕原位电学测量样品杆，泽攸科技不断进行产品迭代及功能拓展，已推出电...
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